Materials analysis with monolayer depth resolution using MeV ion beams

Carstanjen, H. D.

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存

Materials analysis with monolayer depth resolution using MeV ion beams

Carstanjen, H. D. (2001). Materials analysis with monolayer depth resolution using MeV ion beams. Journal of Materials Processing Technology, 117(Special Volume):.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3429-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-342A-A

資料種別: 会議論文

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Carstanjen, H. D.^{1, 2}, 著者

所属:
1Former Central Scientific Facility Pelletron Accelerator, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497653
2Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648

内容説明

表示:

非表示:

キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;

要旨: -

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 出版: 2001-10

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 200515

学位: -

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:

非表示:

出版物名: Journal of Materials Processing Technology

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 117 (Special Volume) 通巻号: (CD-ROM) 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物 1