日本語
 
Help Privacy Policy ポリシー/免責事項
  詳細検索ブラウズ

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存
 
 
ダウンロード電子メール
  High resolution microdiffraction studies using synchrotron radiation

Spolenak, R., Tamura, N., Valek, B. C., MacDowell, A. A., Celestre, R. S., Padmore, H. A., Brown, W. L., Marieb, T., Batterman, B. W., & Patel, J. R. (2002). High resolution microdiffraction studies using synchrotron radiation. In S., Baker, M., Korhonen, E., Arzt, & P., Ho (Eds.), Stress Induced Phenomena in Metallization (pp. 217-228). Melville, N.Y.: AIP.

Item is

基本情報

表示: 非表示:
資料種別: 会議論文

ファイル

表示: ファイル

関連URL

表示:

作成者

表示:
非表示:
 作成者:
Spolenak, R.1, 著者           
Tamura, N., 著者
Valek, B. C., 著者
MacDowell, A. A., 著者
Celestre, R. S., 著者
Padmore, H. A., 著者
Brown, W. L., 著者
Marieb, T., 著者
Batterman, B. W., 著者
Patel, J. R., 著者
所属:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

内容説明

表示:
非表示:
キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 要旨: -

資料詳細

表示:
非表示:
言語: eng - English
 日付: 2002
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 55942
 学位: -

関連イベント

表示:
非表示:
イベント名: Sixth International Workshop on Stress Induced Phenomena in Metallization
開催地: Ithaca, N.Y.
開始日・終了日: 2001-07-25 - 2001-07-27

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:
非表示:
出版物名: Stress Induced Phenomena in Metallization
種別: 会議論文集
 著者・編者:
Baker, S.P., 編集者
Korhonen, M.A., 編集者
Arzt, E.1, 2, 編集者           
Ho, P.S., 編集者
所属:
1 Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655            
2 Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22            
出版社, 出版地: Melville, N.Y. : AIP
ページ: - 巻号: (612) 通巻号: - 開始・終了ページ: 217 - 228 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -

出版物 2

表示:
非表示:
出版物名: American Institute of Physics Conference Proceedings
種別: 連載記事
 著者・編者:
American Institute of Physics, 編集者  
所属:
-
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: (612) 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -