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  Trenches around and between self-assembled silicon/germanium islands grown on silicon substrates investigated by atomic force microscopy

Denker, U., Daschiel, M., Jin-Phillipp, N. Y., & Schmidt, O. G. (2002). Trenches around and between self-assembled silicon/germanium islands grown on silicon substrates investigated by atomic force microscopy. Materials Science and Engineering B, 89, 166-170.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3298-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3299-F
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Denker, U.1, 著者
Daschiel, M., 著者
Jin-Phillipp, N. Y.2, 3, 4, 著者           
Schmidt, O. G., 著者
所属:
1Max Planck Society, ou_persistent13              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
4Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 39-ru_2002
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2002
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 10821
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Materials Science and Engineering B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 89 通巻号: - 開始・終了ページ: 166 - 170 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -