Interface of directly bonded InP wafers for vertical couplers

Jin-Phillipp, N. Y.; Liu, B.; Bowers, J. E.; Hu, E. L.; Kelsch, M.; Thomas, J.; Rühle, M.

Interface of directly bonded InP wafers for vertical couplers

Jin-Phillipp, N. Y., Liu, B., Bowers, J. E., Hu, E. L., Kelsch, M., Thomas, J., & Rühle, M. (2002). Interface of directly bonded InP wafers for vertical couplers. Applied Physics Letters, 80(8), 1346-1348.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-31FD-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-31FE-6

資料種別: 学術論文

その他のタイトル : Appl. Phys. Lett.

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Jin-Phillipp, N. Y.^{1, 2, 3}, 著者
Liu, B.⁴, 著者
Bowers, J. E.⁴, 著者
Hu, E. L.⁴, 著者
Kelsch, M.^{1, 3}, 著者
Thomas, J.^{1, 2}, 著者
Rühle, M.¹, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
4Max Planck Inst Festkorperforsch, Heisenbergstr 1, D-70569; Stuttgart, Germany; Univ Calif Santa Barbara, Dept Elect & Comp Engn, Santa Barbara, CA 93106 USA;, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie; 25-ru_2002;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2002-02-25

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 6921
ISI: 000174009800010

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Applied Physics Letters

出版物の別名 : Appl. Phys. Lett.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 80 (8) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1346 - 1348 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0003-6951

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