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  Lattice distortion analysis directly from high resolution transmission electron microscopy images - the LADIA program package

Du, K., Rau, Y., Jin-Phillipp, N. Y., & Phillipp, F. (2002). Lattice distortion analysis directly from high resolution transmission electron microscopy images - the LADIA program package. Journal of Materials Science & Technology, 18(2), 135-138.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-31F8-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-31FA-E
Genre: Zeitschriftenartikel
Alternativer Titel : J. Mater. Sci. Technol.

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Du, K.1, Autor           
Rau, Y., Autor
Jin-Phillipp, N. Y.1, Autor           
Phillipp, F.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie; high-resolution transmission electron microscopy; distortion analysis
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002-03
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 6891
ISI: 000174881400011
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Science & Technology
  Alternativer Titel : J. Mater. Sci. Technol.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 18 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 135 - 138 Identifikator: ISSN: 1005-0302