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  Electronic structure investigations of Ni and Cr films on (100)SrTiO3 substrates using electron energy-loss spectroscopy

van Benthem, K., Scheu, C., Sigle, W., & Rühle, M. (2002). Electronic structure investigations of Ni and Cr films on (100)SrTiO3 substrates using electron energy-loss spectroscopy. Zeitschrift für Metallkunde, 93(5), 362-371.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3162-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3163-2
資料種別: 学術論文
その他のタイトル : Z. Metallk.

ファイル

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非表示: ファイル
:
1-ru_2002.doc.doc (要旨), 20KB
 
ファイルのパーマリンク:
-
ファイル名:
1-ru_2002.doc.doc
説明:
-
OA-Status:
閲覧制限:
制限付き (Max Planck Institute for Intelligent Systems, MSMT; )
MIMEタイプ / チェックサム:
application/msword
技術的なメタデータ:
著作権日付:
-
著作権情報:
eDoc_access: INSTITUT
CCライセンス:
-

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作成者

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 作成者:
van Benthem, K.1, 著者           
Scheu, C.1, 著者           
Sigle, W.1, 2, 著者           
Rühle, M.1, 著者           
所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; 1-ru_2002; electron energy-loss spectroscopy (EELS); electron energy-loss near-edge structures (ELNES); electronic structure; metal/ceramic interfaces; thin films
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2002-05
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 6775
ISI: 000176310600004
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Zeitschrift für Metallkunde
  出版物の別名 : Z. Metallk.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 93 (5) 通巻号: - 開始・終了ページ: 362 - 371 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0044-3093