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  Structure and photoluminescence features of nanocrystalline Si/SiO2 films produced by plasma chemical vapor deposition and post-treatment

Wu, X. C., Ossadnik, C., Eggs, C., Veprek, S., & Phillipp, F. (2002). Structure and photoluminescence features of nanocrystalline Si/SiO2 films produced by plasma chemical vapor deposition and post-treatment. Journal of Vacuum Science & Technology B, 20(4), 1368-1378.

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基本情報

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資料種別: 学術論文
その他のタイトル : J. Vac. Sci. Technol. B

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作成者

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 作成者:
Wu, X. C.1, 著者
Ossadnik, C.1, 著者
Eggs, C.1, 著者
Veprek, S.1, 著者
Phillipp, F.2, 著者           
所属:
1Tech Univ Munich, Inst Chem Inorgan Mat, Lichtenbergstr 4, D-; 85747 Garching, Germany;, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497657              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle; ZWE Hochspannungs-Mikroskopie; 72-ru_2002;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2002-07
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 6728
ISI: 000177510500016
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Vacuum Science & Technology B
  出版物の別名 : J. Vac. Sci. Technol. B
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 20 (4) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1368 - 1378 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1071-1023