Investigation of Electromigration in Copper Interconnects by Noise Measurements

Emelianov, V.; Ganesan, G.; Puzic, A.; Schulz, S.; Eizenberg, M.; Habermeier, H.-U.; Stoll, H.

Investigation of Electromigration in Copper Interconnects by Noise Measurements

Emelianov, V., Ganesan, G., Puzic, A., Schulz, S., Eizenberg, M., Habermeier, H.-U., & Stoll, H. (2003). Investigation of Electromigration in Copper Interconnects by Noise Measurements. In M. B., Weissmann, N. E., Israeloff, & A. S., Kogan (Eds.), Noise as a Tool for Studying Materials (pp. 271-281).

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2EB1-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-BEA6-3

資料種別: 会議論文

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Emelianov, V., 著者
Ganesan, G., 著者
Puzic, A.¹, 著者
Schulz, S., 著者
Eizenberg, M., 著者
Habermeier, H.-U.², 著者
Stoll, H.^{1, 3}, 著者

所属:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648
2Max Planck Society, ou_persistent13
3Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; MPI für Festkörperforschung; Abt. Schütz;

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2003

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 63712

学位: -

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Noise as a Tool for Studying Materials

種別: 会議論文集

著者・編者:
Weissmann, M. B., 編集者
Israeloff, N. E., 編集者
Kogan, A. S., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 271 - 281 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

出版物 2

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出版物名: Proceedings of SPIE

種別: 連載記事

著者・編者:
SPIE, the International Society for Optical Engineering, 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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