The +/-45 degrees correlation interferometer as a means to measure phase noise 
of parametric origin

Rubiola, E.; Giordano, V.; Stoll, H.

The +/-45 degrees correlation interferometer as a means to measure phase noise of parametric origin

Rubiola, E., Giordano, V., & Stoll, H. (2003). The +/-45 degrees correlation interferometer as a means to measure phase noise of parametric origin. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 52, 182-188.

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資料種別: 学術論文

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Rubiola, E.¹, 著者
Giordano, V.¹, 著者
Stoll, H.^{2, 3}, 著者

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1Univ Henri Poincare, LPMIA, ESSTIN, Nancy, France CNRS, LPMO, Besancon, France, ou_persistent22
2Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651
3Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Schütz;

要旨: -

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日付: 出版: 2003

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 63708

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出版物名: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 52 通巻号: - 開始・終了ページ: 182 - 188 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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