Advances in EELS spectroscopy by using new detector and new specimen 
preparation technologies

Scheu, C.; Gao, M.; van Benthem, K.; Tsukimoto, S.; Schmidt, S.; Sigle, W.; Richter, G.; Thomas, J.

Advances in EELS spectroscopy by using new detector and new specimen preparation technologies

Scheu, C., Gao, M., van Benthem, K., Tsukimoto, S., Schmidt, S., Sigle, W., Richter, G., & Thomas, J. (2003). Advances in EELS spectroscopy by using new detector and new specimen preparation technologies. Journal of Microscopy, 210, 16-24.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2DF9-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2DFB-9

資料種別: 学術論文

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Scheu, C.¹, 著者
Gao, M.¹, 著者
van Benthem, K.¹, 著者
Tsukimoto, S.¹, 著者
Schmidt, S.¹, 著者
Sigle, W.¹, 著者
Richter, G.^{1, 2}, 著者
Thomas, J.¹, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Ehem. Abt. Rühle;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2003

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 53020

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Journal of Microscopy

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 210 通巻号: - 開始・終了ページ: 16 - 24 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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