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  Analysis of mismatched heterointerfaces by combinded HREM image processing and modeling

Möbus, G., Levay, A., Inkson, B. J., Hytch, M., Trampert, A., & Wagner, T. (2003). Analysis of mismatched heterointerfaces by combinded HREM image processing and modeling. Zeitschrift für Metallkunde, 94, 358-367.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Möbus, G.1, 著者
Levay, A.1, 著者
Inkson, B. J.1, 著者
Hytch, M.1, 著者
Trampert, A.1, 著者
Wagner, T.2, 著者           
所属:
1University of Oxford, ou_persistent22              
2Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt; ZWE Dünnschichtlabor; strain mapping; misfit dislocations; semiconductor interfaces; intermetallic alloys; dislocation networks; molecular modelling; quantitative HREM
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2003
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): eDoc: 51193
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: Zeitschrift für Metallkunde
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 94 通巻号: - 開始・終了ページ: 358 - 367 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -