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  Preparation of hard-to-make TEM samples using the FIB microscope

Volkert, C. A., Heiland, B., & Kauffmann, F. (2003). Preparation of hard-to-make TEM samples using the FIB microscope. Praktische Metallographie-Practical Metallography, 40(4), 193-208.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2CE8-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2CE9-A
資料種別: 学術論文
その他のタイトル : Prakt. Metallogr.-Pract. Metallogr.

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作成者

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 作成者:
Volkert, C. A.1, 著者           
Heiland, B.1, 著者           
Kauffmann, F.1, 著者           
所属:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2003-04
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 112769
ISI: 000183440400005
 学位: -

関連イベント

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Praktische Metallographie-Practical Metallography
  出版物の別名 : Prakt. Metallogr.-Pract. Metallogr.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 40 (4) 通巻号: - 開始・終了ページ: 193 - 208 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0032-678X