Microstructure characterization of precursor-derived Si-C-N ceramics before and 
after creep testing

Cai, Y.; Zimmermann, A.; Bauer, A.; Aldinger, F.

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Microstructure characterization of precursor-derived Si-C-N ceramics before and after creep testing

Cai, Y., Zimmermann, A., Bauer, A., & Aldinger, F. (2003). Microstructure characterization of precursor-derived Si-C-N ceramics before and after creep testing. Acta Materialia, 51(9), 2675-2683.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2CA1-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2CA2-6

資料種別: 学術論文

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Cai, Y.¹, 著者
Zimmermann, A.¹, 著者
Bauer, A.¹, 著者
Aldinger, F.^{1, 2}, 著者

所属:
1Former Dept. Materials Synthesis and Microstructure Design, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497654
2Universität Stuttgart, Institut für Nichtmetallische Anorganische Materialien, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Aldinger; transmission electron microscopy (TEM); crystallization; oxidation; interface structure; Si-C-N ceramic

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2003-05-23

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 65119

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Acta Materialia

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 51 (9) 通巻号: - 開始・終了ページ: 2675 - 2683 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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