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  Strong optical anisotropies of F16CuPc thin films studied by spectroscopic ellipsometry

Alonso, M. I., Garriga, M., Osso, J. O., Schreiber, F., Barrena, E., & Dosch, H. (2003). Strong optical anisotropies of F16CuPc thin films studied by spectroscopic ellipsometry. Journal of Chemical Physics, 119(12), 6335-6340.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Alonso, M. I.1, Autor
Garriga, M.1, Autor
Osso, J. O.2, Autor           
Schreiber, F.3, Autor           
Barrena, E.2, Autor           
Dosch, H.2, 4, Autor           
Affiliations:
1Institut de Ciència de Materials de Barcelona, CSIC, Campus de la UAB, 08193 Bellaterra, Spain; Institut für Theoretische und Angewandte Physik, Universität Stuttgart, 70569 Stuttgart, Germany, ou_persistent22              
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645              
3Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
4Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-09-22
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 49858
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Chemical Physics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 119 (12) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 6335 - 6340 Identifikator: -