EELS and EFTEM studies at low energy losses and high energy resolution

Sigle, W.

EELS and EFTEM studies at low energy losses and high energy resolution

Sigle, W. (2004). EELS and EFTEM studies at low energy losses and high energy resolution. In I., Anderson, R., Price, E., Hall, E., Clark, & S., McKernan (Eds.), Proceedings Microscopy and Microanalysis 2004, Suppl. 2 (pp. 258CD-259CD). New York, USA: Press Syndicate of the University of Cambridge.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AE1-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AE2-6

資料種別: 会議論文

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Sigle, W.^{1, 2}, 著者

所属:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Rühle;

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2004

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 194929

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Proceedings Microscopy and Microanalysis 2004, Suppl. 2

種別: 会議論文集

著者・編者:
Anderson, I.M., 編集者
Price, R., 編集者
Hall, E., 編集者
Clark, E., 編集者
McKernan, S., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: New York, USA : Press Syndicate of the University of Cambridge

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 258CD - 259CD 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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