Channel cracking of NiAl thin films on Si substrates

Wellner, P.; Kraft, O.; Dehm, G.; Anderson, J.; Arzt, E.

Channel cracking of NiAl thin films on Si substrates

Wellner, P., Kraft, O., Dehm, G., Anderson, J., & Arzt, E. (2004). Channel cracking of NiAl thin films on Si substrates. Acta Materialia, 52, 2325-2336.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AAC-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AAD-F

資料種別: 学術論文

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Wellner, P.¹, 著者
Kraft, O.¹, 著者
Dehm, G.¹, 著者
Anderson, J.², 著者
Arzt, E.^{1, 3}, 著者

所属:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655
2Institut für Materialforschung II,Forschungszentrum Karlsruhe und Institut für Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen der Universität Karlsruhe, Germany Institute of Polymer Mechanics, Riga, Latvia, ou_persistent22
3Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2004

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 175371

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Acta Materialia

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 52 通巻号: - 開始・終了ページ: 2325 - 2336 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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