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  Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles using focused ion beam milling

Volkert, C. A., Busch, S., Heiland, B., & Dehm, G. (2004). Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles using focused ion beam milling. Journal of Microscopy, 214, 208-212.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AAA-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2AAB-4
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Volkert, C. A.1, 著者           
Busch, S.2, 著者
Heiland, B.1, 著者           
Dehm, G.1, 著者           
所属:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              
2Max Planck Society, ou_persistent13              

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2004
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 175368
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Journal of Microscopy
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 214 通巻号: - 開始・終了ページ: 208 - 212 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -