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  Depth Dependences of the Ion Bombardment Induced Roughness and of the Interdiffusion Coefficient for Si/Al Multilayers.

Wang, J. Y., Zalar, A., & Mittemeijer, E. J. (2004). Depth Dependences of the Ion Bombardment Induced Roughness and of the Interdiffusion Coefficient for Si/Al Multilayers. Applied Surface Science, 222, 171-179.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-29D7-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-29D8-6
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

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:
346.pdf (Zusammenfassung), 8KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
346.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Intelligent Systems, MSMT; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wang, J. Y.1, Autor           
Zalar, A., Autor
Mittemeijer, E. J.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Dept. Phase Transformations; Thermodynamics and Kinetics, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497644              
2Universität Stuttgart, Institut für Materialwissenschaft, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Mittemeijer;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 124092
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
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Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 222 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 171 - 179 Identifikator: -