Dedicated Max Planck beamline for the in-situ investigation of interfaces and 
thin films

Stierle, A.; Steinhäuser, A.; Rühm, A.; Renner, F.U.; Weigel, R.; Kasper, N.; Dosch, H.

Dedicated Max Planck beamline for the in-situ investigation of interfaces and thin films

Stierle, A., Steinhäuser, A., Rühm, A., Renner, F., Weigel, R., Kasper, N., & Dosch, H. (2004). Dedicated Max Planck beamline for the in-situ investigation of interfaces and thin films. Review of Scientific Instruments, 75(12), 5302-5307.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-2889-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-288A-F

資料種別: 学術論文

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Stierle, A.¹, 著者
Steinhäuser, A.², 著者
Rühm, A.², 著者
Renner, F.U.², 著者
Weigel, R.¹, 著者
Kasper, N.², 著者
Dosch, H.^{2, 3}, 著者

所属:
1Former Central Scientific Facility ANKA Synchroton Beamline, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497651
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch; ZWE MF-ANKA-Beamline;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2004-11-17

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 210819

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Review of Scientific Instruments

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 75 (12) 通巻号: - 開始・終了ページ: 5302 - 5307 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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