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  Frequency Comparison of I2 Stabilized Lasers at 532 nm and Absolute Frequency Measurement of I2 Absorption Lines

Nevsky, A. Y., Holzwarth, R., Zimmermann, M., Udem, T., Hänsch, T. W., von Zanthier, J., et al. (2002). Frequency Comparison of I2 Stabilized Lasers at 532 nm and Absolute Frequency Measurement of I2 Absorption Lines. In P. Gill (Ed.), Proceedings of the 6th Symposium on Frequency Standards and Metrology (pp. 521-523). New Jersey: World Scientific.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-C28D-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0018-D004-A
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Nevsky, Alexander Y.1, Autor           
Holzwarth, Ronald2, Autor           
Zimmermann, Marcus2, Autor           
Udem, Thomas2, Autor           
Hänsch, T. W.2, Autor           
von Zanthier, Joachim1, Autor           
Walther, Herbert1, Autor           
Pokasov, Pavel V.2, Autor           
Skvortsov, M. N., Autor
Bagayev, S. N., Autor
Schnatz, H., Autor
Riehle, F., Autor
Affiliations:
1Laser Physics, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445566              
2Laser Spectroscopy, Max Planck Institute of Quantum Optics, Max Planck Society, ou_1445568              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2002
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 15730
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 6th Symposium on Frequency Standards and Metrology
Veranstaltungsort: St. Andrews Univ., Fife, Scotland
Start-/Enddatum: 2001-09-09 - 2001-09-14

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Proceedings of the 6th Symposium on Frequency Standards and Metrology
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Gill, P., Herausgeber
Affiliations:
-
Ort, Verlag, Ausgabe: New Jersey : World Scientific
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 521 - 523 Identifikator: -