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  X-ray reflectivity study of an amphiphilic hexa-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface

Kubowicz, S., Thünemann, A. F., Geue, T. M., Pietsch, U., Watson, M. D., Tchebotareva, N., et al. (2003). X-ray reflectivity study of an amphiphilic hexa-peri-hexabenzocoronene at a structured silicon wafer surface. Langmuir, 19(26), 10997-10999.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-63D3-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-63D4-1
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kubowicz, S.1, Autor           
Thünemann, A. F., Autor
Geue, T. M., Autor
Pietsch, U., Autor
Watson, Mark D.1, Autor           
Tchebotareva, N.1, Autor           
Müllen, Klaus1, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 60538
Anderer: P-03-164
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Langmuir
Genre der Quelle: Zeitschrift
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Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 19 (26) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 10997 - 10999 Identifikator: -