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  Design, fabrication, and characterization of silicon pore optics for ATHENA/IXO

Collon, M. J., Günther, R., Ackermann, M., Partapsing, R., Vacanti, G., Beijersbergen, M. W., Bavdaz, M., Wallace, K., Wille, E., Riekerink, M. O., Haneveld, J., Koelewijn, A., van Baren, C., Müller, P., Krumrey, M., Freyberg, M., Jakobsen, A. C., & Christensen, F. (2011). Design, fabrication, and characterization of silicon pore optics for ATHENA/IXO. In S. L., O'Dell, & G., Pareschi (Eds.), Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy V (pp. 1-10).

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-3C95-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-3C97-4
資料種別: 会議論文

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collon.pdf (全文テキスト（全般）), 3MB
 
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collon.pdf
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非公開
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技術的なメタデータ:
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-
著作権情報:
-
CCライセンス:
-

関連URL

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作成者

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 作成者:
Collon, Maximilien J., 著者
Günther, Ramses, 著者
Ackermann, Marcelo, 著者
Partapsing, Rakesh, 著者
Vacanti, Giuseppe, 著者
Beijersbergen, Marco W., 著者
Bavdaz, Marcos, 著者
Wallace, Kotska, 著者
Wille, Erik, 著者
Riekerink, Mark Olde, 著者
Haneveld, Jeroen, 著者
Koelewijn, Arenda, 著者
van Baren, Coen, 著者
Müller, Peter, 著者
Krumrey, Michael, 著者
Freyberg, Michael1, 著者           
Jakobsen, Anders C., 著者
Christensen, Finn, 著者
所属:
1High Energy Astrophysics, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159890              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2011
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1117/12.893418
その他: LOCALID: AS 24/91, p.81470D
 学位: -

関連イベント

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イベント名: Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy V
開催地: San Diego, CA, USA
開始日・終了日: 2011-08-23 - 2011-08-25

訴訟

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Project information

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出版物 1

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非表示:
出版物名: Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy V
種別: 会議論文集
 著者・編者:
O'Dell, Stephen L., 編集者
Pareschi, Giovanni, 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: - 通巻号: 81470D 開始・終了ページ: 1 - 10 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISBN: 978-0-8194-8757-5

出版物 2

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非表示:
出版物名: Proceedings of SPIE
種別: 連載記事
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Bellingham, WA, USA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers
ページ: - 巻号: 8147 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0277-786X