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  Extracting higher order critical points and topological simplification of 3D vector fields

Weinkauf, T., Theisel, H., Shi, K., Hege, H.-C., & Seidel, H.-P. (2005). Extracting higher order critical points and topological simplification of 3D vector fields. In IEEE Visualization 2005 (VIS 2005) (pp. 559-566). Los Alamitos, USA: IEEE.

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Privat
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Copyright Datum:
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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Weinkauf, Tino, Autor
Theisel, Holger1, Autor           
Shi, Kuangyu1, Autor           
Hege, Hans-Christian, Autor
Seidel, Hans-Peter1, Autor           
Silva, Cláudio T., Herausgeber
Gröller, Eduard, Herausgeber
Rushmeier, Holly, Herausgeber
Affiliations:
1Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2006-04-252005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: Los Alamitos, USA : IEEE
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 278965
Anderer: Local-ID: C125675300671F7B-C6C2757EF16879D8C1257050003CF30A-Weinkauf05
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Untitled Event
Veranstaltungsort: http://vis.computer.org/vis2005/index.html
Start-/Enddatum: 2005-10-23

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: IEEE Visualization 2005 (VIS 2005)
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
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Ort, Verlag, Ausgabe: Los Alamitos, USA : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 559 - 566 Identifikator: -