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 詳細要約
  Topological Structures in Two-Parameter-Dependent 2D Vector Fields

Weinkauf, T., Theisel, H., Hege, H.-C., & Seidel, H.-P. (2006). Topological Structures in Two-Parameter-Dependent 2D Vector Fields. In EUROGRAPHICS 2006 (EG'06) (pp. 607-616). Oxford, UK: Blackwell.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-2443-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-2444-3
資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Weinkauf, Tino, 著者
Theisel, Holger1, 著者           
Hege, Hans-Christian, 著者
Seidel, Hans-Peter1, 著者           
Szirmay-Kalos, László, 編集者
Gröller, Eduard, 編集者
所属:
1Computer Graphics, MPI for Informatics, Max Planck Society, ou_40047              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: In this paper we extract and visualize the topological skeleton of two-parameter-dependent vector fields. This kind of vector data depends on two parameter dimensions, for instance physical time and a scale parameter. We show that two important classes of local bifurcations – fold and Hopf bifurcations – build line structures for which we present an approach to extract them. Furthermore we show that new kinds of structurally stable local bifurcations exist for this data, namely fold-fold and Hopf-fold bifurcations. We present a complete classification of them. We apply our topological extraction method to analyze a number of two-parameter-dependent vector fields with different physical interpretations of the two additional dimensions.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2007-03-162006
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: Oxford, UK : Blackwell
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 314631
その他: Local-ID: C125675300671F7B-C7A50DDD67376FFAC1257235005E9689-Theisel2006EG
 学位: -

関連イベント

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イベント名: Untitled Event
開催地: Vienna, Austria
開始日・終了日: 2006-09-04

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: EUROGRAPHICS 2006 (EG'06)
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Oxford, UK : Blackwell
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 607 - 616 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

出版物 2

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出版物名: Computer Graphics Forum
種別: 連載記事
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -