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  Electron density dependence of intensity ratio for FeXXII extreme ultraviolet emission lines arising from different ground levels in electron beam ion trap and large helical device

Sakaue, H. A., Yamamoto, N., Morita, S., Nakamura, N., Chen, C., Kato, D., et al. (2011). Electron density dependence of intensity ratio for FeXXII extreme ultraviolet emission lines arising from different ground levels in electron beam ion trap and large helical device. Journal of Applied Physcis, 109(7): 073304. doi:10.1063/1.3549707.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-134C-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-134D-B
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Sakaue, H. A.1, Autor
Yamamoto, N.1, Autor
Morita, S.1, Autor
Nakamura, N.1, Autor
Chen, C.1, Autor
Kato, D.1, Autor
Kikuchi, H.1, Autor
Murakami, I.1, Autor
Ohtani, S.1, Autor
Tanuma, H.1, Autor
Watanabe, T.1, Autor
Tawara, Hiroyuki2, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Division Prof. Dr. Joachim H. Ullrich, MPI for Nuclear Physics, Max Planck Society, ou_904547              

Inhalt

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Schlagwörter: B-4945-2011
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n):
 Datum: 20112011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 9
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: ISI: 000289949000019
DOI: 10.1063/1.3549707
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Applied Physcis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 109 (7) Artikelnummer: 073304 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0021-8979
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042723401880_1